Memorizza il recordDefect and microstructure analysis by diffraction / [edited by] Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Bunge. - Reprinted. - [Chester (England)] : International Union of Crystallography ; Oxford ; New York [etc.] : Oxford
University Press, 2005 (United Kingdom : Lightning Source). - XXII, 785 p. : ill., diagr., foto ; 24 cm. - (International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography ; 10) (Oxford science publications)
Luoghi di pubblicazione (della Oxf. Univ. Pr.) sul verso del frontespizio. - Copyright e prima edizione: 1999. -
Note sul contenuto: Prima del testo lista dei 39 "contributors" (tra cui i curatori) ed elenco sigle e
abbreviazioni; al termine indice analitico; Bibliografia specifica al termine di ognuno dei 31 capitoli; questi sono distribuiti, dopo l'introduttivo cap. 1 ("Introduction to defect and microstructure analysis or the analysis of real
structure"), in 7 parti: Pt. I, Fundamentals of defect analysis by diffraction ; II, Experimental techniques ; III, Macrostress ; IV, Texture ; V, Whole-pattern fitting ; VI, Restoring physical patterns from the observed variables ; VII,
Applications. - ISBN 0198501897
Altri autori: Snyder, Robert L. [1941-2011] |
Fiala, Jaroslav [1940-] |
Bunge, Hans-Joachim [1929-2004]Collana: International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography |
Oxford science publicationsSoggetti: Cristalli - Reticolo - Difetti - Analisi - Studi |
Cristalli - Microstruttura - Analisi - Studi |
Diffrattometria di polveri - Studi |
Cristalli - Diffrazione di raggi X - Dati - Elaborazione elettronica |
Cristallografia strutturale - Studi |
Solidi (Fisica) - Struttura - ProprietàParole chiave: Metodo RietveldClassificazione: 548.83
Tipo: 102 - Monografia moderna
| Lingua: ENG
| Paese: GB
| Data di pubblicazione o produzione: 2005
| Gestione database: 1IGT
| Codice: RT10060434
| MFN: 0167570
