Memorizza il recordRietveld structure refinement of synthetic strontium-rich potassium-richterites / Jean-Louis Robert, Giancarlo Della Ventura, Mati Raudsepp and Frank C. Hawthorne. - Stuttgart : E. Schweizerbart'sche, 1993. - [199]-206 p. : 6 ill. ;
24 cm
Sopra l'intitolazione, sostituto del frontespizio, l'indicazione di estratto; in calce alla pagina le note tipografiche. - Estratto da: European journal of mineralogy, 5 (1993). - Al termine date di ricevimento (febbr. 1992) e di accettazione (nov.
1992). - Estratto da: European journal of mineralogy, 5 (1993). -
Note sul contenuto: 4 tabelle; Riassunto in inglese
Altri autori: Robert, Jean-Louis [mineralogista] |
Della Ventura, Giancarlo |
Raudsepp, Mati |
Hawthorne, Frank C.Parole chiave: Diffrattometria di polveri |
Metodo Rietveld |
Diffrazione di raggi X |
Cristallografia strutturale |
Struttura cristallina |
Costanti reticolari |
Ordine/disordine |
K-richterite |
Sr |
SintesiClassificazione: 548.83
Tipo: 102 - Monografia moderna
| Lingua: ENG
| Paese: DE
| Data di pubblicazione o produzione: 1993
| Gestione database: 1IGT
| Codice: RT10060471
| MFN: 0485344
