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Feldman, Leonard C. [fisico]
Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer. - [185 ca.] c. : ill., diagr. ; 22x31
Fotocopia di vol. (esaurito in distribuzione) con questi dati catalografici: New York ; Amsterdam ; London : North-Holland, [c1986]. - XVIII, 352 p., [2] p. di tab. : ill. ; 24 cm. - ISBN 0-444-00989-2 . - Con tab. e indice analitico. - Donazione Giovanni Pratesi
Altri autori: Mayer, James Walter [fisico]
Soggetti: Corpi - Superficie - Proprietà fisiche - Testi per l'insegnamento | Pellicole sottili (Fisica) - Testi per l'insegnamento | Materiali - Analisi chimica - Metodi fisici
Classificazione: 530.417 507 11 [CDD]

	Biblioteca	Codice	Collocazione	Inventario	Disponibilità
	Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)	RT10EE	543. 08. FEL	001576	Verifica disponibilità in sede