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Defect and microstructure analysis by diffraction / [edited by] Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Bunge. - Reprinted. - [Chester (England)] : International Union of Crystallography ; Oxford ; New York [etc.] : Oxford University Press, 2005 (United Kingdom : Lightning Source). - XXII, 785 p. : ill., diagr., foto ; 24 cm. - (International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography ; 10) (Oxford science publications)
Luoghi di pubblicazione (della Oxf. Univ. Pr.) sul verso del frontespizio. - Copyright e prima edizione: 1999. - Note sul contenuto: Prima del testo lista dei 39 "contributors" (tra cui i curatori) ed elenco sigle e abbreviazioni; al termine indice analitico; Bibliografia specifica al termine di ognuno dei 31 capitoli; questi sono distribuiti, dopo l'introduttivo cap. 1 ("Introduction to defect and microstructure analysis or the analysis of real structure"), in 7 parti: Pt. I, Fundamentals of defect analysis by diffraction ; II, Experimental techniques ; III, Macrostress ; IV, Texture ; V, Whole-pattern fitting ; VI, Restoring physical patterns from the observed variables ; VII, Applications. - ISBN 0198501897
Altri autori: Snyder, Robert L. [1941-2011] | Fiala, Jaroslav [1940-] | Bunge, Hans-Joachim [1929-2004]
Collana: International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography | Oxford science publications
Soggetti: Cristalli - Reticolo - Difetti - Analisi - Studi | Cristalli - Microstruttura - Analisi - Studi | Diffrattometria di polveri - Studi | Cristalli - Diffrazione di raggi X - Dati - Elaborazione elettronica | Cristallografia strutturale - Studi | Solidi (Fisica) - Struttura - Proprietà
Parole chiave: Metodo Rietveld
Classificazione: 548.83

	Biblioteca	Codice	Collocazione	Inventario	Prestito	Disponibilità
	Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)	RT10EE	548. 83. SNY	002914	Ammesso	Verifica disponibilità in sede

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Modern powder diffraction / D.L. Bish and J.E. Post editors. - Washington : Mineralogical Society of America, c1989. - XI, 369 p. : ill. ; 23 cm. - (Reviews in mineralogy : formerly "Short course notes" ; 20)
Sul front. in piccolo i nomi di tutti gli A. e del cur. della collez. - Donazione Giovanni Pratesi. - ISBN 0939950243
Altri autori: Bish, David L. | Post, Jeffrey E.
Collana: Reviews in mineralogy : formerly "Short course notes"
Soggetti: Diffrattometria di polveri - Studi | Cristalli - Diffrazione - Studi
Classificazione: 548.83 [CDD]

	Biblioteca	Codice	Collocazione	Inventario	Disponibilità
	Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)	RT10EE	548. 83. POW	001585	Verifica disponibilità in sede

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The Rietveld method / edited by R.A. Young. - [Repr.]. - [Chester (England)] : International Union of Crystallography ; Oxford ; New York [etc.] : Oxford University Press, 1995. - X, 298 p. : ill. ; 24 cm. - (International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography ; 5) (Oxford science publications)
Luoghi di pubblicazione (della Oxf. Univ. Pr.) sul verso del frontespizio. - Copyright e prima edizione: 1993. - Prefazione del curatore datata dicembre 1991. - Note sul contenuto: Prima del testo lista dei 21 autori; al termine indice analitico. - ISBN 0198559127
Altri autori: Young, Robert Alan [1921-2012] Curatore
Collana: International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography | Oxford science publications
Soggetti: Diffrattometria di polveri - Studi | Cristalli - Diffrazione di raggi X - Dati - Elaborazione elettronica | Cristalli - Diffrazione - Studi | Cristallografia strutturale - Studi
Parole chiave: Metodo Rietveld
Classificazione: 548.83

	Biblioteca	Codice	Collocazione	Inventario	Note	Prestito	Disponibilità
	Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)	RT10EE	548. 83. RIE	001586	Donazione Giovanni Pratesi	Ammesso	Verifica disponibilità in sede

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Structure determination from powder diffraction data / edited by W.I.F. David, K. Shankland, L.B. McCusker, Ch. Baerlocher. - Paperback ed. - Oxford ; New York [etc.] : Oxford University Press ; [Chester (England) : International Union of Crystallography], 2006 (King's Lynn [Norfolk] : Biddles). - XIX, 337 p. : ill., diagr., tab. ; 24 cm. - (International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography ; 13) (Oxford science publications)
Nome del coeditore in calce alla cop. (sopra la seconda formulazione di collez.). - Copyr. e prima ed.: 2002. - Note sul contenuto: Prima del testo lista dei 34 "contributors" (tra cui i cur.); al termine indici (simboli, abbreviazioni, programmi di calcolatore, analitico); Bibliogr. specifica al termine di ognuno dei 17 cap. - ISBN 0199205531, 9780199205530
Altri autori: David, William I.F. [fisico] Curatore | Shankland, Kenneth [chimico] Curatore | McCusker, Lynne B. [chimico] Curatore | Bärlocher, Christian [fisico] Curatore
Collana: International union of crystallography book series. IUCr monographs on crystallography | Oxford science publications
Soggetti: Cristalli - Struttura - Studi | Diffrattometria di polveri - Studi | Cristalli - Diffrazione di raggi X - Dati - Elaborazione elettronica | Cristallografia strutturale - Studi | Solidi (Fisica) - Polveri - Proprietà ottiche | Geochimica
Classificazione: 548.83

	Biblioteca	Codice	Collocazione	Inventario	Prestito	Disponibilità
	Biblioteca di Scienze geo-ambientali e planetarie (ex IGT)	RT10EE	548. 83. DAV	002915	Ammesso	Verifica disponibilità in sede